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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists. 2nd Edition
por Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; David C. Joy; Alton D. Romig Jr.; Charles E. Lyman; Charles Fiori; Eric Lifshin
- Usado
- Perto de Excelente
- Capa dura
- Condição
- Perto de Excelente/Very Good
- ISBN 10
- 0306441756
- ISBN 13
- 9780306441752
- Livreiro
-
Vancouver, Washington, United States
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Sobre este item
Springer, 1992. Hardback in near fine condition with a very good plus dust jacket. 2nd Edition. 2nd Edition. Hardcover. Near Fine/Very Good.
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Detalhes
- Livreiro
- Rob Briggs Books (US)
- Nº do estoque do livreiro
- 15119
- Título
- Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis: A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists. 2nd Edition
- Autor
- Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; David C. Joy; Alton D. Romig Jr.; Charles E. Lyman; Charles Fiori; Eric Lifshin
- Formato/Encadernação
- Capa dura
- Estado do livro
- Usado - Perto de Excelente
- Condição de sobrecapa
- Very Good
- Quantidade Disponível
- 1
- Edição
- 2nd Edition
- ISBN 10
- 0306441756
- ISBN 13
- 9780306441752
- Editorial
- Springer
- Local de publicação
- New York, New York, U.s.a.
- Data de publicação
- 1992
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Sobre o Vendedor
Rob Briggs Books
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Vancouver, Washington
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